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產(chǎn)品資源

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產(chǎn)品文檔:

冷場發(fā)射12極子球差校正透射電鏡

創(chuàng)新點 1)更穩(wěn)定的得到冷場發(fā)射電子槍; 2)更高級的自動球差校正軟件 3)更高效的能譜分析功能 上市時間:2020年2月

產(chǎn)品特點

     主要特點

    1 超高空間分辨率與能譜分析的組合優(yōu)化。

    新開發(fā)的FHP2物鏡極靴的特點如下:

    1)提高了能譜分析效率到兩倍以上。

    2)低光學(xué)系數(shù),低Cc系數(shù)和低Cs系數(shù)使得超高空間分辨率和高靈敏度X射線分析能夠在一定范圍的加速電壓下執(zhí)行。

    (保證的STEM分辨率:300kV53pm80kV96pm*

    *在配置STEM擴展軌跡像差(ETA)校正器時

    2 用于物鏡的超寬極靴(WGP)能譜分析靈敏度超高,原位擴展極強。

    1WGP極靴的能譜固體角為2.2 sr

    2WGP極靴寬度可達6mm,更方便進行各種類型的原位實驗。

    3 JEOL開發(fā)的12極子球差(Cs)校正器和自動校正軟件。

    1FHP2極靴,GRAND ARM?2300 kV時的STEM分辨率達到53 pm。

    2WGP極靴,GRAND ARM?2300 kV時的STEM分辨率達到59 pm。

    3JEOL COSMO?(自動校正軟件)使快速,輕松執(zhí)行像差校正成為可能。

    4 新式冷場發(fā)射槍(Cold-FEG)。

    GRAND ARM?2配備了新式Cold-FEG,可從電子源提供較小的能量散布。穩(wěn)定性更好。

    5 減輕外部干擾的外殼

    這種新外殼是減少外部干擾(例如氣流,室內(nèi)溫度變化和噪音)的標(biāo)準(zhǔn)。

    ■ 主要規(guī)格

    保證分辨率

    HAADF-STEM圖像:53pm(帶ETA校正器和FHP2)

    電子槍:冷場發(fā)射槍(Cold-FEG)

    加速電壓

    標(biāo)準(zhǔn):300kV和80kV

    能量色散X射線光譜儀

    大面積SDD(158mm 2):可以使用雙探測器


    產(chǎn)品介紹

    20200214日,日本電子(JEOL Ltd.)總裁兼首席運營官Izumi Oi宣布發(fā)布全新原子分辨率分析電子顯微鏡JEM-ARM300F2GRAND ARM?2),該電子顯微鏡將于20202月發(fā)布

    • 技術(shù)參數(shù)
    • 訂購信息
    • 附加信息
    • 價格咨詢

    ·         型號JEM-ARM300F2

    ·         產(chǎn)地日本

    ·         樣本 暫無

    ·         品牌日本電子

    核心參數(shù)

    ·         放大倍率100X-2,000,000X

    ·         加速電壓最高300KV

    ·         分辨率53pm

    ·         儀器種類 場發(fā)射


    售后服務(wù)承諾

    免費上門安裝:是

    保修期:1

    是否可延長保修期:是

    保內(nèi)維修承諾:全免

    報修承諾:快速到達

    免費儀器保養(yǎng):每年一次

    免費培訓(xùn):3人技術(shù)中心培訓(xùn)

    現(xiàn)場技術(shù)咨詢:有


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